Zobrazeno 1 - 10
of 20
pro vyhledávání: '"C. Brillard"'
Autor:
P. Polovodov, Christophe Boyaval, Nicolas Clement, Fei Wang, D. Deresmes, C. Brillard, Kamel Haddadi, S. Eliet, Olaf C. Haenssler, Didier Theron, Gilles Dambrine
Publikováno v:
2018 IEEE MTT-S International Conference on Numerical Electromagnetic and Multiphysics Modeling and Optimization (NEMO)
2018 IEEE MTT-S International Conference on Numerical Electromagnetic and Multiphysics Modeling and Optimization (NEMO), Aug 2018, Reykjavik, Iceland. pp.1-4, ⟨10.1109/NEMO.2018.8503487⟩
2018 IEEE MTT-S International Conference on Numerical Electromagnetic and Multiphysics Modeling and Optimization (NEMO), Aug 2018, Reykjavik, Iceland. pp.1-4, ⟨10.1109/NEMO.2018.8503487⟩
International audience; Near-field scanning microwave microscopy (NSMM) is a scanning probe microscopy (SPM) technique that measures the local interaction of evanescent microwaves with a sample using a sharp tip probe. The traceability in NSMM is sti
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::06ad7fdc1eb369b33316110cc81b02f9
Autor:
A. Díaz Álvarez, D. Desremes, Damien Eschimese, Jimmy Xu, J-F. Lampin, Bruno Grandidier, François Vaurette, Maxime Berthe, Emiliano Pallecchi, D. Vignaud, Elisabeth Galopin, Wei Wei, Henri Happy, C Brillard, S. Eliet, O. Lancry, Tao Xu, Bin Wei
Publikováno v:
Nanoscale. 11:7003-7003
Correction for ‘Transport mechanisms in a puckered graphene-on-lattice’ by T. Xu et al., Nanoscale, 2018, 10, 7519–7525.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::1ff05515f0820a5d10323837012d4c16
https://doi.org/10.1039/c9nr90067e
https://doi.org/10.1039/c9nr90067e
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Jean-Michel Hartmann, Nicolas Chevalier, Didier Theron, Romolo Marcelli, L. Michalas, C. Brillard, Fei Wang
Publikováno v:
Applied Physics Letters
Applied Physics Letters, 2015, 107 (22), pp.223102. ⟨10.1063/1.4936761⟩
Applied Physics Letters, 2015, 107 (22), pp.223102. ⟨10.1063/1.4936761⟩
International audience; This paper presents the full modeling and a methodology for de-embedding the interferometric scanning microwave microscopy measurements by means of dopant profile calibration. A Si calibration sample with different boron-dopin
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::91fcf8ca84ec57dc8fc9bdad6fe34a04
https://doi.org/10.1063/1.4936761
https://doi.org/10.1063/1.4936761
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.