Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"C. Boutonnat"'
Autor:
J. Beltritti, Philippe Galy, M. Bilinski, R. Chevallier, Sylvain Dudit, V. Varo, Frank Jezequel, C. Boutonnat, Ph. Larre, E. Petit, Michel Vallet, Jean Jimenez, Alexandre Dray
Publikováno v:
Microelectronics Reliability. 50:1388-1392
The main purpose of this paper is to present typical silicon signatures induced by charged device stress and to discuss the nature of failures. This first inventory is elaborated on advanced CMOS–BICMOS technologies until C32 nm dual oxide. It is w
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b9d27ebad3f1758ee058aebc4f1b9edb
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2010.07.137
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2010.07.137
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.