Zobrazeno 1 - 10
of 104
pro vyhledávání: '"C, Weichert"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
International Journal of Pressure Vessels and Piping. 78:865-874
Large scale specimens with real internal defects were taken from castings. The behaviour of the defects under service like loading conditions (creep, creep–fatigue and fatigue tests at 530°C) was studied, accompanied by non-destructive testing and
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::1db1a2514626ae36e6a14d5925653fe4
https://doi.org/10.1016/s0308-0161(01)00101-6
https://doi.org/10.1016/s0308-0161(01)00101-6
Publikováno v:
Diabetologie und Stoffwechsel. 8
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::8cc77ff5aa7d056da38de45318852604
https://doi.org/10.1055/s-0033-1341864
https://doi.org/10.1055/s-0033-1341864
Publikováno v:
Der Pathologe. 33(6)
Cell block procedures have now become an established part of cytological diagnostics. In this study a cytoblock technique based on the plasma-thrombin method was evaluated.In total 389 consecutive cytological samples were initially analyzed by the cl
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=pmid________::c26c3293174b2e89b6b4537af18b3718
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/22592669
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/22592669
Publikováno v:
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques. 41:752-759
The authors determined that RF drain current degradation is responsible for the poor power performance of wide-recessed pseudomorphic high-electron-mobility transistors (PHEMTs). A model based on surface states was proposed to explain this phenomenon
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::5331bc51a2fcb0ddf3eead0eee7d0e74
https://doi.org/10.1109/22.234507
https://doi.org/10.1109/22.234507
Publikováno v:
Chemie Ingenieur Technik. 71:928-929
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::7ad5d5ef683c37d6719a4428f13c41be
https://doi.org/10.1002/cite.330710908
https://doi.org/10.1002/cite.330710908
Publikováno v:
Chemie Ingenieur Technik. 77:1150-1150
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::3f919c2ff84a478c93e2c3c49fc27273
https://doi.org/10.1002/cite.200590259
https://doi.org/10.1002/cite.200590259
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Chemie Ingenieur Technik. 66:1230-1230
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::67e8efa130fe98fd6e44fa26ab289377
https://doi.org/10.1002/cite.3306609120
https://doi.org/10.1002/cite.3306609120
Autor:
T. Geiger, C. Weichert
Publikováno v:
Chemie Ingenieur Technik (CIT); Nov2003, Vol. 75 Issue 11, p1691-1699, 9p