Zobrazeno 1 - 10
of 204
pro vyhledávání: '"C, Petrich"'
Autor:
J. Scholz, L. Birnbacher, C. Petrich, M. Riedel, L. Heck, S. Gkoumas, T. Sellerer, K. Achterhold, J. Herzen
Publikováno v:
APL Photonics, Vol 5, Iss 10, Pp 106108-106108-9 (2020)
Photon-counting detectors provide several potential advantages in biomedical x-ray imaging including fast and readout noise free data acquisition, sharp pixel response, and high dynamic range. Grating-based phase-contrast imaging is a biomedical imag
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/ba1db1fd89e0446a92198eb854c597e3
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
The Cryosphere, Vol 7, Iss 3, Pp 977-986 (2013)
The amount of solar radiation transmitted through Arctic sea ice is determined by the thickness and physical properties of snow and sea ice. Light transmittance is highly variable in space and time since thickness and physical properties of snow and
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/69d55a3ec8fe443e91542493f55a1f0a
Autor:
S. Bartzsch, A. Dimroth, J. Winter, C. Petrich, C. Matejcek, Y. Zhang, J. Rieser, S. Rötzer, K.-L. Krämer, M. Zimmermann, M. Galek, M. Butzek, K. Aulenbacher, J. Wilkens, S. Combs
Publikováno v:
Physica Medica. 94:S71-S72
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b4bad90b82216cf2e5d3ba3850ef41ee
https://doi.org/10.1016/s1120-1797(22)01595-2
https://doi.org/10.1016/s1120-1797(22)01595-2
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Applied Surface Science. 242:428-436
Photo-emission electron microscopy (PEEM) and atomic force microscopy (AFM) have been used to characterize the surfaces of hydrogen etched 6H-SiC(0 0 0 1) wafers and the microstructure of the initial stages of growth of GaN and AlN on these surfaces
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::ae7d5143c24bdcfe06b4746ded201046
https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2004.09.021
https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2004.09.021
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.