Zobrazeno 1 - 10
of 247
pro vyhledávání: '"C, Perini"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS).
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Leonardo H. Bertolucci, Ana P. Donadello Martins, Oscar Rockenbach Pereira, Alfredo A. Schulte, Sílvio C. Perini
Publikováno v:
Vascular and Endovascular Surgery. :153857442311543
Primary aortic mural thrombus (PAMT) is defined as a thrombus attached to the aortic wall in the absence of any atherosclerotic or aneurysmal disease in the aorta and a cardiac source of embolus. There is no consensus on the ideal treatment of PAMT.
Autor:
María Ángeles Cadarso, Enrique Gilles, Luis A. López, Mateo Ortiz, Felipe Muñoz, Javiera Cáceres, Brayan Alarcón, Lida Chávez, Martín Fierro, Libertad Guzmán, Valentina Hidalgo, Andrea Martínez, Constanza Montenegro, Antonia Pérez, María Jesús Ramírez, Tomas Rogaler, Fabiola Zibetti, Sofía C. Perini, Nelson Illescas, Nicolás Jorge, Santiago Camara, Máximo Sangiacomo, Andrea González, Juan Carlos Hallak, Andrés Tacsir, Adrián Blanco Estévez, Julia Paranhos, Mariana Vaz, Fernanda Perin, Caroline Miranda, Daniela Falcão
Esta revista, en su edición número 47, presenta ocho estudios elaborados a partir de un concurso realizado junto al Instituto Interdisciplinario de Economía Política de Buenos Aires (IIEP) de la Facultad de Ciencias Económicas de la Universidad
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::7f3aaa54ba49a7545265b80c8360ec87
https://doi.org/10.18235/0003837
https://doi.org/10.18235/0003837
Autor:
Rahim Kasim, Madhavan Atul, D. Kencke, J. R. Weber, G. W. Zhang, C. Perini, J. Palmer, C.-Y. Lin
Publikováno v:
2020 IEEE International Interconnect Technology Conference (IITC).
This paper focuses on the study of Co/Low-k dielectric TDDB (Time Dependent Dielectric Breakdown) in Intel’s 10nm process technology. We demonstrate that 36nm/40nm pitch Cobalt interconnects with Low-k dielectric successfully meet our technology TD
Autor:
C.-Y. Su, M. Maksud, James Waldemer, David Young, J. Palmer, S. Ramey, Mark Armstrong, H. Li, C. Perini, L. Paulson, M. El-tanani, H. Greve, Benjamin J. Orr, Sunny Chugh, Y. Yang
Publikováno v:
IRPS
The 22FFL technology developed for operation to 3.3V is used to investigate process and design considerations required to extend technology capability to 12 V applications. A prototype chip was carefully designed in close consideration with the techn
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.