Strained hetero interfaces in Si/SiGe/SiGe/SiGe multi-layers studied by scanning moiré fringe imaging.

Autor: Kim, Suhyun, Lee, Sungho, Kondo, Yukihito, Lee, Kyungwoo, Byun, Gwangsun, Lee, Sunyoung, Lee, Kyupil

Publikováno v: Journal of Applied Physics; Aug2013, Vol. 114 Issue 5, p053518, 5p, 1 Color Photograph, 1 Black and White Photograph, 2 Illustrations, 2 Graphs

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.