Zobrazeno 1 - 10 of 284 pro vyhledávání: '"Buxo J"'
1
Akademický článek
Archaeometric characterization of regional late antique cooking wares from the area of Vallès (Catalonia, Spain): The case of two rural sites
Autor: Riutort, J., Cau Ontiveros, M.A., Roig i Buxó, J.
Publikováno v: In Journal of Archaeological Science: Reports October 2018 21:1091-1102
Zobrazit plný text záznamu
3
Akademický článek
Evolution of continuous flow peritoneal dialysis and the current state of the art.
Autor: Diaz-Buxo, Jose A.1, Diaz-Buxo, J A1 (AUTHOR)
Publikováno v: Seminars in Dialysis. Sep/Oct2001, Vol. 14 Issue 5, p373-377. 5p.
Zobrazit plný text záznamu
4
Akademický článek
A new lateral power MOSFET for smart power ICs: the “LUDMOS concept”
Autor: Zitouni, M *, Morancho, F, Tranduc, H, Rossel, P, Buxo, J, Pagès, I, Merchant, S
Publikováno v: In Microelectronics Journal 1999 30(6):551-561
Zobrazit plný text záznamu
6
Conference
A new concept for the lateral DMOS transistor for smart power IC's.
Autor: Zitouni, M., Morancho, F., Rossel, P., Tranduc, H., Buxo, J., Pages, I.
Publikováno v: 11th International Symposium on Power Semiconductor Devices & ICs ISPSD'99 Proceedings (Cat No99CH36312); 1999, p73-76, 4p
Zobrazit plný text záznamu
7
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
8
Conference
Comparison between biased and floating guard rings used as junction termination technique.
Autor: Macary, V., Charitat, G., Bafleur, M., Buxo, J., Rossel, P.
Publikováno v: Proceedings of the 4th International Symposium on Power Semiconductor Devices & Ics; 1992, p230-233, 4p
Zobrazit plný text záznamu
9
Conference
Modelling Of The Internal Initiation Of Latch-Up In CMOS-VLSI Circuits.
Autor: Bafleur, M., Dall'Agnese, P., Sicard, E., Elmoznine, A., Buxo, J.
Publikováno v: 1987 NASECODE V: Proceedings of the Fifth International Conference on the Numerical Analysis of Semiconductor Devices & Integrated Circuits; 1987, p142-149, 8p
Zobrazit plný text záznamu
10
Conference
Latch-up test structures for reliability analysis of a floating well based smart power technology.
Autor: Puig Vidal, M., Bafleur, M., Buxo, J., Sarrabayrouse, G.
Publikováno v: ICMTS 93 Proceedings of the 1993 International Conference on Microelectronic Test Structures; 1993, p111-115, 5p
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje