Výsledky vyhledávání - "Bushnell, M.L."

Knihovna AV ČR, v. v. i.

Odhlásit
Přihlášení
Jazyk
- English
- Čeština
Instituce

Pokročilé vyhledávání

Zahrnout EIZ

Zachovat současné nastavení filtrů

EXPAND:"fulltext"

Domovská stránka
Vyhledávání: "Bushnell, M.L."
Navrhnout nákup titulu

Zobrazeno 1 - 10 of 128 pro vyhledávání: '"Bushnell, M.L."'

Řazení

Vybrat vše | Vybrané výsledky:

Vybrat výsledek číslo 1 1

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 2 2

Conference

Fault Nodes in Implication Graph for Equivalence/Dominance Collapsing, and Identifying Untestable and Independent Faults.

Autor: Sethuram, R., Bushnell, M.L., Agrawal, V.D.

Publikováno v: 26th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2008); 2008, p329-335, 7p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 3 3

Conference

A Jitter Reduction Circuit Using Autocorrelation for Phase-Locked Loops and Serializer-Deserializer (SERDES) Circuits.

Autor: Venkatanarayanan, H.V., Bushnell, M.L.

Publikováno v: 21st International Conference on VLSI Design (VLSID 2008); 2008, p581-588, 8p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 4 4

Conference

SPARTAN: a spectral and information theoretic approach to partial-scan.

Autor: Khan, O.I., Bushnell, M.L., Devanathan, S.K., Agrawal, V.D.

Publikováno v: 2007 IEEE International Test Conference; 2007, p1-10, 10p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 5 5

Conference

Power Grid Analysis of Dynamic Power Cutoff Technology.

Autor: Baozhen Yu, Bushnell, M.L.

Publikováno v: 2007 IEEE International Symposium on Circuits & Systems; 2007, p1393-1396, 4p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 6 6

Conference

A Neural Net Branch Predictor to Reduce Power.

Autor: Sethuram, R., Khan, O.I., Venkatanarayanan, H.V., Bushnell, M.L.

Publikováno v: 20th International Conference on VLSI Design held jointly with 6th International Conference on Embedded Systems (VLSID'07); 2007, p679-684, 6p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 7 7

Conference

Fault Models and Device Yield of a Large Population of Room Temperature Operation Single-Electron Transistors.

Autor: Mazor, D., Bushnell, M.L., Mulligan, D.J., Blaikie, R.J.

Publikováno v: 20th International Conference on VLSI Design held jointly with 6th International Conference on Embedded Systems (VLSID'07); 2007, p657-664, 8p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 8 8

Conference

Architecture for Variable-Length Combined FFT, DCT, and MWT Transform Hardware for a Multi-ModeWireless System.

Autor: Pandey, R., Bushnell, M.L.

Publikováno v: 20th International Conference on VLSI Design held jointly with 6th International Conference on Embedded Systems (VLSID'07); 2007, p121-126, 6p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 9 9

Conference

A Novel Dynamic Power Cutoff Technique (DPCT) for Active Leakage Reduction in Deep Submicron CMOS Circuits.

Autor: Baozhen Yu, Bushnell, M.L.

Publikováno v: ISLPED'06 Proceedings of the 2006 International Symposium on Low Power Electronics & Design; 2006, p214-219, 6p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 10 10

Conference

Using contrapositive law in an implication graph.

Autor: Dave, K.K., Agrawal, V.D., Bushnell, M.L.

Publikováno v: 18th International Conference on VLSI Design Held Jointly with 4th International Conference on Embedded Systems Design; 2005, p723-729, 7p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat vše | Vybrané výsledky:

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
Další »
[13]

Vyhledávací nástroje:

RSS
Poslat e-mailem

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání

Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR

Zdroje

Pouze tištěné dokumenty

Zahrnout EIZ

94 Konferenční materiály
31 Akademické články
3 Časopisy
1 Recenze

3 fault simulation
2 delay test
2 delay testing
2 dynamic power
2 redundancy
2 veterans
1 artificial intelligence
1 automatic test generation
1 automatic test pattern generation
1 backtracing
1 behavior therapy
1 blackboard model
1 books
1 brain health
1 cad
1 circuit analysis
1 circuit faults
1 circuit simulation
1 circuit synthesis
1 circuit testing
1 cognitive rehabilitation
1 combinational logic circuits
1 computer-aided design
1 current noise
1 current signatures
1 da
1 data mining
1 delay
1 delay fault
1 dementia prevention
1 depression
1 design automation
1 design environments
1 design optimization
1 digital integrated circuits
1 digital testing
1 electrical fault detection
1 energy consumption
1 energy minimization
1 expert systems
1 false path
1 fans
1 fault detection
1 fault diagnosis
1 fault models
1 filtering
1 floor planning
1 graph theory
1 hazards
1 hdl

64 ieee
7 kluwer academic publishers
6 ieee computer society
4 institute of electrical and electronics engineers inc.
3 ieee comp soc
1 allerton press inc.
1 american psychological association
1 astm
1 springer nature
1 w.b. saunders

23 proceedings of the ieee international conference on vlsi design
6 ieee transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
6 ieee transactions on very large scale integration (vlsi) systems
6 journal of electronic testing: theory and applications (jetta)
5 19th international conference on vlsi design held jointly with 5th international conference on embedded systems design (vlsid'06)
4 proceedings of the ieee vlsi test symposium
3 20th international conference on vlsi design held jointly with 6th international conference on embedded systems (vlsid'07)
3 journal of electronic testing
3 proceedings - international test conference
3 proceedings 16th ieee vlsi test symposium (cat no98tb100231)
3 proceedings of 9th international conference on vlsi design
3 proceedings of the 16th international conference on vlsi design, 2003
3 proceedings of the 8th international conference on vlsi design
2 18th international conference on vlsi design held jointly with 4th international conference on embedded systems design
2 2004 international conference on test
2 artificial intelligence in engineering
2 ieee transactions on computer-aided design of integrated circuits & systems
2 ieee transactions on very large scale integration systems
2 proceedings of ieee vlsi test symposium
2 proceedings of the 17th international conference on vlsi design
2 proceedings twelfth international conference on vlsi design (cat nopr00013)
1 1988 ieee international conference on computer-aided design (iccad-89) digest of technical papers
1 1990 digest of papers fault-tolerant computing: 20th international symposium
1 1991, proceedings international test conference
1 1992 proceedings 29th acm/ieee design automation conference
1 2007 ieee international symposium on circuits & systems
1 2007 ieee international test conference
1 21st international conference on vlsi design (vlsid 2008)
1 25th acm/ieee, design automation conferenceproceedings 1988
1 26th ieee vlsi test symposium (vts 2008)
1 astm special technical publication
1 discrete applied mathematics
1 fourteenth international conference on vlsi design, vlsi design 2001
1 international test conference 1999 proceedings (ieee cat no99ch37034)
1 islped'06 proceedings of the 2006 international symposium on low power electronics & design
1 proceedings 13th ieee vlsi test symposium
1 proceedings eleventh international conference on vlsi design
1 proceedings first asian test symposium (ats '92)
1 proceedings first ieee international workshop on electronic design, test & applications '2002
1 proceedings international test conference
1 proceedings international test conference 1996 test & design validity
1 proceedings international test conference 1998 (ieee cat no98ch36270)
1 proceedings of 1995 ieee international test conference (itc)
1 proceedings of 7th international conference on vlsi design
1 proceedings of european design & test conference edac-etc-euroasic
1 proceedings of ieee 24th international symposium on fault- tolerant computing
1 proceedings of the fifth asian test symposium (ats'96)
1 proceedings of the fourth asian test symposium
1 proceedings seventh asian test symposium (ats'98) (cat no98tb100259)
1 proceedings tenth international conference on vlsi design

63 Scopus®
62 Complementary Index
3 Supplemental Index

Od:

do:

Možnosti vyhledávání

Tematická mapa
Historie vyhledávání
Pokročilé vyhledávání

Objevte více

Abecední procházení

Hledáte pomoc?

Tipy pro vyhledávání

načítá se......