Zobrazeno 1 - 10
of 23
pro vyhledávání: '"Burenkov, Alex"'
Autor:
Burenkov, Alex, Lorenz, Jürgen
The thermo-mechanical effect in bulk-silicon FinFETs of the 14 nm CMOS technology node is studied by means of numerical simulation. The electrical performance of such devices is significantly enhanced by the intentional introduction of mechanical str
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______610::abc56f9bc7f84ae039649c532f15d42d
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/241786
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/241786
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Angular distributions of silicon atoms sputtered by gallium ions at grazing incidence were investigated experimentally and by simulation. The energies and the ion beam fluence studied are typical for using focused ion beam techniques for silicon micr
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______610::34b05d16a9256c3958664a23da840cf5
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/227940
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/227940
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Wang, Xingsheng, Reid, Dave, Wang, Liping, Burenkov, Alex, Millar, Campbell, Lorenz, Juergen, Asenov, Asen
Publikováno v:
2015 12th IEEE International Conference on Advanced Video & Signal Based Surveillance (AVSS); 2015, p325-328, 4p
Publikováno v:
2015 12th IEEE International Conference on Advanced Video & Signal Based Surveillance (AVSS); 2015, p218-221, 4p
Publikováno v:
2014 20th International Conference on Ion Implantation Technology (IIT); 2014, p1-4, 4p
Publikováno v:
20th International Workshop on Thermal Investigations of ICs & Systems; 2014, p1-6, 6p
Publikováno v:
19th International Workshop on Thermal Investigations of ICs & Systems (THERMINIC); 2013, p305-308, 4p