Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"Bunton, JH"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Thompson, K, Larson, DJ, Bunton, JH, Ulfig, RM, Prosa, TJ, Sebastian, JT, Lenz, DR, Gerstl, SS A, Reinhard, DA, Olson, JD, Kelly, TF
Publikováno v:
Microscopy & Microanalysis; Aug2006 Supplement, Vol. 12 Issue S02, p1738-1739, 2p
Autor:
Caplins BW; National Institute of Standards and Technology, Applied Chemicals and Materials Division, Boulder, CO, 80305, USA. Electronic address: benjamin.caplins@nist.gov., Chiaramonti AN; National Institute of Standards and Technology, Applied Chemicals and Materials Division, Boulder, CO, 80305, USA., Garcia JM; National Institute of Standards and Technology, Applied Chemicals and Materials Division, Boulder, CO, 80305, USA., Miaja-Avila L; National Institute of Standards and Technology, Applied Physics Division, Boulder, CO, 80305, USA., Yano KH; Pacific Northwest National Laboratory, Energy and Environment Directorate, Richland, WA, 99354, USA., Schreiber DK; Pacific Northwest National Laboratory, Energy and Environment Directorate, Richland, WA, 99354, USA., Bunton JH; CAMECA Instruments Inc., Madison, WI, 53711, USA.
Publikováno v:
Ultramicroscopy [Ultramicroscopy] 2024 Dec; Vol. 267, pp. 114061. Date of Electronic Publication: 2024 Oct 25.
Autor:
Meisenkothen F; National Institute for Standards and Technology, Gaithersburg, MD U.S.A., Kelly TF; CAMECA Instruments, Inc., Madison, WI U.S.A., Oltman E; CAMECA Instruments, Inc., Madison, WI U.S.A., Bunton JH; CAMECA Instruments, Inc., Madison, WI U.S.A., Renaud L; CAMECA SA, Gennevilliers, France., Larson DJ; CAMECA Instruments, Inc., Madison, WI U.S.A.
Publikováno v:
Microscopy and microanalysis : the official journal of Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society, Microscopical Society of Canada [Microsc Microanal] 2016 Jul; Vol. 22 (Suppl 3), pp. 680-681. Date of Electronic Publication: 2016 Jul 25.
Autor:
Bunton JH; Imago Scientific Instruments Corporation, Madison, WI 53711-4951, USA. jbunton@imago.com, Olson JD, Lenz DR, Kelly TF
Publikováno v:
Microscopy and microanalysis : the official journal of Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society, Microscopical Society of Canada [Microsc Microanal] 2007 Dec; Vol. 13 (6), pp. 418-27.
Autor:
Kelly TF; Imago Scientific Instruments Corporation, 6300 Enterprise Lane, Madison, WI 53719-1193, USA. tkelly@imago.com, Gribb TT, Olson JD, Martens RL, Shepard JD, Wiener SA, Kunicki TC, Ulfig RM, Lenz DR, Strennen EM, Oltman E, Bunton JH, Strait DR
Publikováno v:
Microscopy and microanalysis : the official journal of Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society, Microscopical Society of Canada [Microsc Microanal] 2004 Jun; Vol. 10 (3), pp. 373-83.