Zobrazeno 1 - 6
of 6
pro vyhledávání: '"Bulk technologies"'
Autor:
Damien Lambert, P. Paillet, Thierry Carriere, J. Baggio, Frédéric Saigné, B. Sagnes, Sylvain Girard, V. Ferlet-Cavrois, N. Buard, Guillaume Hubert, O. Flament, Jerome Boch
Publikováno v:
IEEE Transactions on Nuclear Science
IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2006, 53 (4), pp.1890-1896. ⟨10.1109/TNS.2006.880935⟩
IEEE Transactions on Nuclear Science, 2006, 53 (4), pp.1890-1896. ⟨10.1109/TNS.2006.880935⟩
IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2006, 53 (4), pp.1890-1896. ⟨10.1109/TNS.2006.880935⟩
IEEE Transactions on Nuclear Science, 2006, 53 (4), pp.1890-1896. ⟨10.1109/TNS.2006.880935⟩
International audience; This paper investigates the single event upset sensitivity of Bulk SRAMs for terrestrial applications. The technology sensitivity is analyzed with both quasi-monoenergetic neutron and proton experiments in an energy range from
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.