Výsledky vyhledávání - "Budri, Thanas"

Akademický článek

Utilization of TXRF analytical technique in order to improve front-end semiconductor processing

Autor: Budri, Thanas

Publikováno v: In Applied Surface Science 2008 254(15):4768-4773

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Front- and back-end process characterization by SIMS to achieve electrically matched devices

Autor: Budri, Thanas, Kouzminov, Dimitry

Publikováno v: In Applied Surface Science 2004 231:772-775

Zobrazit plný text záznamu

Conference

Molybdenum contamination in BF2 high current ion implantation causing PNP beta variability: CFM/Contamination free manufacturing.

Autor: Smith, Aaron, Kurkowski, Peter, Budri, Thanas

Publikováno v: 2016 27th Annual SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC); 2016, p23-29, 7p

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.