Zobrazeno 1 - 10
of 37
pro vyhledávání: '"Bucchignano, J.J."'
Autor:
Yanning Sun, Kiewra, E.W., De Souza, J.P., Koester, S.J., Bucchignano, J.J., Ruiz, N., Fogel, K.E., Sadana, D.K., Shahidi, G.G., Fompeyrine, J., Webb, D.J., Sousa, M., Marchiori, C., Germann, R., Shiu, K.T.
Publikováno v:
2009 IEEE International Conference on IC Design & Technology; 2009, p161-164, 4p
Autor:
Yanning Sun, Kiewra, E.W., de Souza, J.P., Bucchignano, J.J., Fogel, K.E., Sadana, D.K., Shahidi, G.G.
Publikováno v:
2008 IEEE International Electron Devices Meeting; 2008, p1-4, 4p
Autor:
Ohuchi, K., Lavoie, C., Murray, C.E., D'Emic, C.P., Lauer, I., Chu, J.O., Bin Yang, Besser, P., Gignac, L.M., Bruley, J., Singco, G.U., Pagette, F., Topol, A.W., Rooks, M.J., Bucchignano, J.J., Narayanan, V., Khare, M., Takayanagi, M., Ishimaru, K., Dae-Gyu Park
Publikováno v:
Extended Abstracts - 2008 8th International Workshop on Junction Technology (IWJT '08); 2008, p150-153, 4p
Autor:
Davari, B., Chang, W.H., Wordeman, M.R., Oh, C.S., Taur, Y., Petrillo, K.E., Moy, D., Bucchignano, J.J., Ng, H.Y., Rosenfield, M.G., Hohn, F.J., Rodriguez, M.D.
Publikováno v:
Technical Digest, International Electron Devices Meeting; 1988, p56-59, 4p
Autor:
Ohuchi, K., Lavoie, C., Murray, C., D'Emic, C., Chu, J.O., Bin Yang, Besser, P., Gignac, L., Bruley, J., Singco, G.U., Pagette, F., Topol, A.W., Rooks, M.J., Bucchignano, J.J., Narayanan, V., Khare, M., Takayanagi, M., Ishimaru, K., Dae-Gyu Park, Shahidi, G.
Publikováno v:
2007 IEEE International Electron Devices Meeting; 2007, p1029-1031, 3p
Autor:
Wind, S.J., Shi, L., Lee, K.-L., Roy, R.A., Zhang, Y., Sikorski, E., Kozlowski, P., D'emic, C., Bucchignano, J.J., Wann, H.-J., Viswanathan, R.G., Cai, J., Taur, Y.
Publikováno v:
International Electron Devices Meeting 1999 Technical Digest (Cat No99CH36318); 1999, p928-930, 3p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Zhen Zhang, Pagette, F., D'Emic, C., Yang, B., Lavoie, C., Ray, A., Zhu, Y., Hopstaken, M., Maurer, S., Murray, C., Guillorn, M., Klaus, D., Bucchignano, J.J., Bruley, J., Ott, J., Pyzyna, A., Newbury, J., Song, W., Zuo, G., Lee, K.-L.
Publikováno v:
2010 International Symposium on VLSI Technology Systems & Applications (VLSI-TSA); 2010, p154-155, 2p
Autor:
Yanning Sun, Kiewra, E.W., de Souza, J.P., Bucchignano, J.J., Fogel, K.E., Sadana, D.K., Shahidi, G.G.
Publikováno v:
2008 Device Research Conference; 2008, p41-42, 2p