Zobrazeno 1 - 10
of 105
pro vyhledávání: '"Bruefach, A"'
Autor:
Ophus, Colin, Zeltmann, Steven E, Bruefach, Alexandra, Rakowski, Alexander, Savitzky, Benjamin H, Minor, Andrew M, Scott, MC
Crystalline materials used in technological applications are often complex assemblies composed of multiple phases and differently oriented grains. Robust identification of the phases and orientation relationships from these samples is crucial, but th
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2111.00171
Autor:
Pelz, Phillip M., Groschner, Catherine K., Bruefach, Alexandra, Satariano, Adam, Ophus, Colin, Scott, M. C.
Shape-controlled synthesis of multiply twinned nanostructures is heavily emphasized in nanoscience, in large part due to the desire to control the size, shape, and terminating facets of metal nanoparticles for applications in catalysis. Direct contro
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2109.06954
Autor:
Yalamarthy, Ananth Saran, Rojo, Miguel Muñoz, Bruefach, Alexandra, Boone, Derrick, Dowling, Karen M., Satterthwaite, Peter F., Goldhaber-Gordon, David, Pop, Eric, Senesky, Debbie G.
In typical thermoelectric energy harvesters and sensors, the Seebeck effect is caused by diffusion of electrons or holes in a temperature gradient. However, the Seebeck effect can also have a phonon drag component, due to momentum exchange between ch
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1809.08342
Publikováno v:
APL Machine Learning, Vol 1, Iss 1, Pp 016106-016106-7 (2023)
Materials discovery and design require characterizing material structures at the nanometer and sub-nanometer scale. Four-Dimensional Scanning Transmission Electron Microscopy (4D-STEM) resolves the crystal structure of materials, but many 4D-STEM dat
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/c875ad92918c4ac88ee7d89c1884a8a2
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
APL Machine Learning. Mar2023, Vol. 1 Issue 1, p1-7. 7p.
Publikováno v:
Microscopy and Microanalysis. 28:1998-2008
Understanding the structure of materials is crucial for engineering devices and materials with enhanced performance. Four-dimensional scanning transmission electron microscopy (4D-STEM) is capable of mapping nanometer-scale local crystallographic str
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::77117819187fb14a63a4c073892c5943
https://doi.org/10.1017/s1431927622012259
https://doi.org/10.1017/s1431927622012259
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.