Zobrazeno 1 - 10
of 74
pro vyhledávání: '"Bruchhaus L"'
Autor:
Bruchhaus, L., Bauerdick, S., Peto, L., Barth, U., Rudzinski, A., Mussmann, J., Klingfus, J., Gierak, J., Hövel, H.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering September 2012 97:48-50
Autor:
Morin, A., Lucot, D., Ouerghi, A., Patriarche, G., Bourhis, E., Madouri, A., Ulysse, C., Pelta, J., Auvray, L., Jede, R., Bruchhaus, L., Gierak, J.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering September 2012 97:311-316
Autor:
Gierak, J., Bourhis, E., Faini, G., Patriarche, G., Madouri, A., Jede, R., Bruchhaus, L., Bauerdick, S., Schiedt, B., Biance, A.L., Auvray, L.
Publikováno v:
In Ultramicroscopy 2009 109(5):457-462
Autor:
Gierak, J., Madouri, A., Biance, A.L., Bourhis, E., Patriarche, G., Ulysse, C., Lucot, D., Lafosse, X., Auvray, L., Bruchhaus, L., Jede, R.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2007 84(5):779-783
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Kitslaar, P., Strassner, M., Sagnes, I., Bourhis, E., Lafosse, X., Ulysse, C., David, C., Jede, R., Bruchhaus, L., Gierak, J.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2006 83(4):811-814
Autor:
Gierak, J., Bourhis, E., Mérat Combes, M.N., Chriqui, Y., Sagnes, I., Mailly, D., Hawkes, P., Jede, R., Bruchhaus, L., Bardotti, L., Prével, B., Hannour, A., Mélinon, P., Perez, A., Ferré, J., Jamet, J.-P., Mougin, A., Chappert, C., Mathet, V.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2005 78:266-278
Autor:
Mazarov, P., Richter, T., Bruchhaus, L., Pilz, W., Jedeyang Yu, R., Sanabia, J. E., Bischoff, L., Hlawacek, G.
Publikováno v:
AVS International Symposium and Exhibition, 20.-25.10.2019, Columbus, Ohio, USA
Nanofabrication requirements for FIB technologies are specifically demanding in terms of patterning resolution, stability and the support of new processing techniques. Additionally, the type of ion defines the nature of the interaction mechanism with
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______4577::3f7b6616553d9dffad3be0761688b59a
https://www.hzdr.de/publications/Publ-29609-1
https://www.hzdr.de/publications/Publ-29609-1
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2004 73:610-614
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.