Zobrazeno 1 - 10
of 52
pro vyhledávání: '"Broekaart, M."'
Autor:
Tavel, B., Duriez, B., Gwoziecki, R., Basso, M.T., Julien, C., Ortolland, C., Laplanche, Y., Fox, R., Sabouret, E., Detcheverry, C., Boeuf, F., Morin, P., Barge, D., Bidaud, M., Biénacel, J., Garnier, P., Cooper, K., Chapon, J.D., Trouiller, Y., Belledent, J., Broekaart, M., Gouraud, P., Denais, M., Huard, V., Rochereau, K., Difrenza, R., Planes, N., Marin, M., Boret, S., Gloria, D., Vanbergue, S., Abramowitz, P., Vishnubhotla, L., Reber, D., Stolk, P., Woo, M., Arnaud, F.
Publikováno v:
In Solid State Electronics 2006 50(4):573-578
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering October 2004 76(1-4):167-174
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering October 2004 76(1-4):1-7
Autor:
Gosset, L.G ∗, Arnal, V, Brun, Ph, Broekaart, M, Monget, C, Casanova, N, Rivoire, M, Oberlin, J.-C, Torres, J
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2003 70(2):274-279
Autor:
Lazzarino, F., Pelissier, B., Chevolleau, T., Cunge, G., Vallier, L., Joubert, O., Gouraud, P., Bernard, H., Broekaart, M., Chaton, C., Chapon, J.D, Warrick, S., Gatefait, M.
Publikováno v:
52nd International AVS Symposium & Topical Conferences
52nd International AVS Symposium & Topical Conferences, 2005, boston, United States
52nd International AVS Symposium & Topical Conferences, 2005, boston, United States
International audience
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::b4bfc606f418a29e8390e063e12d2da7
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00400468
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00400468
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Pain, L., Jurdit, M., Todeschini, J., Manakli, S., Icard, B., Minghetti, B., Bervin, G., Beverina, A., Leverd, F., Broekaart, M., Gouraud, P., De Jonghe, V., Brun, Ph., Denorme, S., Boeuf, F., Wang, V., Henry, D.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2005, Issue 1, p35-45, 11p
Autor:
Pain, Laurent, Jurdit, M., LaPlanche, Yves T., Todeschini, J., Manakli, Serdar, Bervin, G., Palla, Ramiro, Beverina, A., Faure, R., Bossy, X., Leininger, H., Tourniol, S., Broekaart, M., Judong, F., Brosselin, K., Gouraud, P., De Jonghe, Veronique, Henry, Daniel, Woo, M., Stolk, Peter
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2004, Issue 1, p590-600, 11p
Autor:
Besling, W.F.A., Arnal, V., Guillaumond, J.R., Guedj, C., Broekaart, M., Chapelon, L.L., Farcy, A., Arnaud, L., Torres, J.
Publikováno v:
IEDM Technical Digest. IEEE International Electron Devices Meeting, 2004; 2004, p325-328, 4p
Autor:
Pain, Laurent, Charpin, Murielle, Laplanche, Yves, Herisson, David, Todeschini, J., Palla, Ramiro, Beverina, A., Leininger, H., Tourniol, S., Broekaart, M., Luce, Emmanuelle, Judong, F., Brosselin, K., Le Friec, Y., Leverd, F., Del Medico, S., De Jonghe, V., Henry, Daniel, Woo, M. P., Arnaud, F.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2003, Issue 1, p560-571, 12p