A sub-50 meV spectrometer and energy filter for use in combination with 200 kV monochromated (S)TEMs

Autor: Brink, H.A., Barfels, M.M.G. ^*, Burgner, R.P., Edwards, B.N.

Publikováno v: In Ultramicroscopy 2003 96(3):367-384

Analysis of AC loss measurements on superconductors using coil configurations

Autor: Roovers, A.J.M., van den Brink, H.A., van de Klundert, L.J.M.

Publikováno v: Proceedings of the Seventh International Cryogenic Materials Conference (ICMC): held June 14-18, 1987, in St. Charles, Ill. with Cryogenic Engineering Conference (CEC), 909-916
STARTPAGE=909;ENDPAGE=916;TITLE=Proceedings of the Seventh International Cryogenic Materials Conference (ICMC)

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=narcis______::125a75b7e2819303a854571e5bf769d3
https://research.utwente.nl/en/publications/0707f932-71a0-482c-a990-af1c1ce5c7af

Principles of depth-resolved Kikuchi pattern simulation for electron backscatter diffraction.

Autor: WINKELMANN, A.¹ winkelm@mpi-halle.mpg.de

Publikováno v: Journal of Microscopy. Jul2010, Vol. 239 Issue 1, p32-45. 14p. 2 Color Photographs, 2 Black and White Photographs, 2 Diagrams, 1 Graph.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.