Zobrazeno 1 - 9
of 9
pro vyhledávání: '"Briggs, Benjamin D."'
Autor:
Lanzillo, Nicholas A., Briggs, Benjamin D., Robison, Robert R., Standaert, Theo, Lavoie, Christian
Publikováno v:
In Computational Materials Science 15 February 2019 158:398-405
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Capulong, Jihan O., Briggs, Benjamin D., Bishop, Seann M., Hovish, Michael Q., Matyi, Richard J., Cady, Nathaniel C.
Publikováno v:
2012 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report; 1/ 1/2012, p22-25, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
72nd Device Research Conference; 2014, p113-114, 2p
Autor:
Briggs, Benjamin D., Bishop, Seann M., Capulong, Jihan O., Hovish, Mike Q., Matyi, Richard J., Cady, Nathaniel C.
Publikováno v:
2011 International Semiconductor Device Research Symposium (ISDRS); 2011, p1-2, 2p
Publikováno v:
2011 International Semiconductor Device Research Symposium (ISDRS); 2011, p1-2, 2p
Autor:
Nogami, Takeshi, Briggs, Benjamin D, Korkmaz, Sevim, Chae, Moosung, Penny, Christopher, Li, Juntao, Wang, Wei, McLaughlin, Paul S, Kane, Terence, Parks, Christopher, Madan, Anita, Cohen, Stephan, Shaw, Thomas, Priyadarshini, Deepika, Shobha, Hosadurga, Nguyen, Son, Patlolla, Raghuveer, Kelly, James, Zhang, Xunyuan, Spooner, Terry
Publikováno v:
2015 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM); 1/1/2015, p1-8.1.4, 0p