Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"Brian J. Meier"'
Publikováno v:
IEEE Journal of Photovoltaics. 10:1604-1613
Contact resistivity ( ρc ) for silicon solar cells is often measured using a pseudo-TLM pattern of equally spaced gridlines, which is cut from the cell itself. In this measurement, the uncontacted (floating) gridlines between two contacted gridlines
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::65c1c9c16b210b34d9d28ee81d524e37
https://doi.org/10.1109/jphotov.2020.3022697
https://doi.org/10.1109/jphotov.2020.3022697
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.