Zobrazeno 1 - 10
of 48
pro vyhledávání: '"Brazzelli, D."'
Autor:
Mica, I., Polignano, M.L., Bacciaglia, P., Brazzelli, D., Cseh, D., Galbiati, A., Grasso, S., Juhel, M., Kiss, Z.T., Monge Roffarello, P., Tomezzoli, E., Torti, A.M.
Publikováno v:
In Materials Today: Proceedings 2018 5(6) Part 3:14778-14784
Autor:
Ghidini, G., Langenbuch, M., Bottini, R., Brazzelli, D., Ghetti, A., Galbiati, N., Giusto, G., Garavaglia, A.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2005 45(5):857-860
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2004 72(1):5-9
Publikováno v:
In Applied Surface Science 2003 203:437-440
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2003 43(8):1229-1235
Autor:
Ghidini, G., Brazzelli, D.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2002 42(9):1473-1480
Publikováno v:
In Solid State Electronics August 2001 45(8):1271-1278
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2001 41(7):1003-1006
Autor:
Ghidini, G., Bottini, R., Brazzelli, D., Galbiati, N., Mica, I., Morini, A., Pavan, A., Polignano, M.L., Vitali, M.E.
Publikováno v:
2006 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings; 2006, p379-384, 6p
Autor:
Servalli, G., Brazzelli, D., Camerlenghi, E., Capetti, G., Costantini, S., Cupeta, C., DeSimone, D., Ghetti, A., Ghilardi, T., Gulli, P., Mariani, M., Pavan, A., Somaschini, R.
Publikováno v:
IEEE International Electron Devices Meeting, 2005. IEDM Technical Digest; 2005, p849-852, 4p