Zobrazeno 1 - 10
of 123
pro vyhledávání: '"Bravman J"'
Publikováno v:
Science, 1990 Jan . 247(4940), 307-309.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/2873626
Autor:
Barabash, R. I., Ice, G. E., Tamura, N., Valek, B. C., Bravman, J. C., Spolenak, R., Patel, J. R.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 5/1/2003, Vol. 93 Issue 9, p5701, 6p, 1 Black and White Photograph, 1 Diagram, 3 Graphs
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 6/15/2001, Vol. 89 Issue 12, p7797, 12p, 9 Black and White Photographs, 1 Diagram, 1 Chart, 9 Graphs
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 5/15/1991, Vol. 69 Issue 10, p7189, 13p
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 4/1/1989, Vol. 65 Issue 7, p2734, 5p, 5 Graphs
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 7/15/1995, Vol. 78 Issue 2, p1026, 7p, 9 Black and White Photographs
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 10/15/1994, Vol. 76 Issue 8, p4516, 8p, 2 Black and White Photographs, 1 Diagram, 9 Graphs
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 10/15/1990, Vol. 68 Issue 8, p4343, 3p
Autor:
Spolenak, R., Barr, D. L., Gross, M. E., Evans-Lutterodt, K., Brown, W. L., Nobumichi Tamura, Macdowell, A. A., Celestre, R. S., Padmore, H. A., Valek, B. C., Bravman, J. C., Flinn, P., Marieb, T., Keller, R. R., Batterman, B. W., Patel, J. R.
Publikováno v:
Spolenak, Ralph; Barr, D.L.; Gross, M.E.; Evans-Lutterodt, K.; Brown, W.L.; Tamura, N.; et al.(2001). Microtexture and strain in electroplated copper interconnects. Lawrence Berkeley National Laboratory. Lawrence Berkeley National Laboratory: Lawrence Berkeley National Laboratory. Retrieved from: http://www.escholarship.org/uc/item/9z58w046
Scopus-Elsevier
Scopus-Elsevier
The microstructure of narrow metal conductors in the electrical interconnections on IC chips has often been identified as of major importance in the reliability of these devices. The stresses and stress gradients that develop in the conductors as a r
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::5839a29ff88f47929668e5cf75939146
http://www.escholarship.org/uc/item/9z58w046
http://www.escholarship.org/uc/item/9z58w046
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.