Zobrazeno 1 - 10
of 3 283
pro vyhledávání: '"Brand, S."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Golshani S, Ghanbari S, Firoozabadi A, Shakeri J, Hookari S, Rahami B, Sadeghi Bahmani D, Brand S
Publikováno v:
Neuropsychiatric Disease and Treatment, Vol Volume 16, Pp 2407-2417 (2020)
Sanobar Golshani,1,* Sahel Ghanbari,1,* Ali Firoozabadi,2 Jalal Shakeri,1 Sarah Hookari,1 Bahareh Rahami,1 Dena Sadeghi Bahmani,1,3,4 Serge Brand1,3– 6 1Substance Abuse Prevention Research Center, Health Institute, Kermanshah University of Medical
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/713ec793867e4a7187d61ecc62c86c49
Die logika van die geloof gebed as die raakpunt tussen rasionaliteit en ervaring by Rahner en Calvyn
Autor:
Brand, S. J. P.
Thesis (D.D.(Dogmat.)--Universiteit van Pretoria, 2005.
Includes bibliographical references (leaves 233-250).
Includes bibliographical references (leaves 233-250).
Externí odkaz:
http://upetd.up.ac.za/thesis/available/etd-09292006-135130/
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Psychology Research and Behavior Management, Vol Volume 11, Pp 557-566 (2018)
Nasrin Abdoli,1 Dena Sadeghi Bahmani,1–4 Vahid Farnia,1 Mostafa Alikhani,1 Sanobar Golshani,1 Edith Holsboer-Trachsler,2 Serge Brand1–5 1Substance Abuse Prevention Research Center, Kermanshah University of Medical Sciences, Kermanshah, Iran; 2Cen
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/63670d677d4340239b45d45ee5124fa4
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2017 76-77:238-242
Autor:
Grünwald, E., Hammer, R., Rosc, J., Maier, G.A., Bärnthaler, M., Cordill, M.J., Brand, S., Nuster, R., Krivec, T., Brunner, R.
Publikováno v:
In NDT and E International December 2016 84:99-107
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2016 64:346-351
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2016 64:336-340
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2016 64:341-345