Zobrazeno 1 - 10
of 51
pro vyhledávání: '"Brahim Mehdi"'
Publikováno v:
Acta Metallurgica Slovaca, Vol 23, Iss 4 (2017)
The aim of this work is to investigate cold worked Ti-6Al-4V (α+β) alloy. The alloy was examined by X-ray diffraction using Rietveld refinement method. MAUD software (Materials Analysis Using Diffraction) was used to analyze the microstructural par
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/51a20d9245be41e39513b25a5789d605
Autor:
Sal-de-Rellán, Alejandro1 (AUTHOR), Ben Brahim, Mehdi2 (AUTHOR), Hernaiz-Sánchez, Ariadna1 (AUTHOR), Tarwneh, Raghad2 (AUTHOR), Martín, Víctor3 (AUTHOR) martin.victor.93@gmail.com
Publikováno v:
PLoS ONE. 10/02/2024, Vol. 19 Issue 10, p1-11. 11p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Ben Brahim, Mehdi1 (AUTHOR), Sal-de-Rellán, Alejandro2 (AUTHOR) salderellanguerra@gmail.com, Yasin, Hussain1 (AUTHOR), Hernaiz-Sánchez, Ariadna3 (AUTHOR)
Publikováno v:
PLoS ONE. 12/7/2023, Vol. 18 Issue 12, p1-10. 10p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Metals and Materials International. 28:2042-2058
Autor:
Brahim, Mehdi Ben, Sal-de-Rellán, Alejandro, Hernaiz-Sánchez, Ariadna, Yasin, Hussain, García-Valverde, Adrián
Publikováno v:
Frontiers in Psychology; 2023, p01-08, 8p
Publikováno v:
Materials Science Forum. 1016:534-540
In this study, a random field (RF) model with a Gaussian kernel was applied to generate an artificial microstructure of dual phase (DP) steels. Micrographs obtained from Scanning Electron Microscopy (SEM) were analyzed using image processing software