Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"Brad E. Campbell"'
Autor:
Aswin N. Mehta, Kenneth E. Krause, Brad E. Campbell, John M. Carulli, Fred A. Valente, Derek C. Wrobbel
Publikováno v:
SPIE Proceedings.
It is critical for success in the microprocessor business to understand the relationship between yield and speed- performance. This paper outlines a method for modeling device speed distribution and yield using on-chip ring-oscillator measurements. T
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.