Zobrazeno 1 - 10
of 24
pro vyhledávání: '"Bouyssou, Emilien"'
Cycle life and statistical predictive reliability model for all-solid-state thin film microbatteries
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability February 2019 93:102-108
Autor:
Martin Doublet, Nicolas Defrance, Etienne Okada, Loris Pace, Thierry Duquesne, Bouyssou Emilien, Arnaud Yvon, Nadir Idir, Jean-Claude De Jaeger
Publikováno v:
Electronics; Volume 12; Issue 9; Pages: 2007
Electronics
Electronics, 2023, 12 (9), pp.2007. ⟨10.3390/electronics12092007⟩
Electronics
Electronics, 2023, 12 (9), pp.2007. ⟨10.3390/electronics12092007⟩
International audience; In this paper, a methodology is proposed for studying the current collapse effects of Gallium Nitride (GaN) power diodes and the consequences on the dynamic on-resistance (RON). Indeed, the growing interest of GaN based, high
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; Mar2009, Vol. 105 Issue 6, p061605-061612, 7p, 2 Diagrams, 1 Chart, 14 Graphs
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Integrated Ferroelectrics; 2005, Vol. 73 Issue 1, p49-56, 8p, 1 Chart, 4 Graphs
Autor:
Bouyssou, Emilien, Amemagne, Marianne, Trupkovic, Alexandra, Gardes, Pascal, Forster, Stephane, Charley, Sylvain
Publikováno v:
ECS Transactions; March 2014, Vol. 61 Issue: 6 p155-163, 9p