Zobrazeno 1 - 10
of 274
pro vyhledávání: '"Boselli G."'
Autor:
Corleto R., Boselli G., Margiotta G., L. Monzani M., Craparo A., Locaso M., Sperduti S., Roy N, Simoni M., Rochira V., Santi D., Brigante G.
Publikováno v:
Endocrine Abstracts.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Boselli, G.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September-October 2012 52(9-10):1769-1775
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Monzani, M. L., Piccinini, F., Boselli, G., Corleto, R., Margiotta, G., Peeters, R. P., Simoni, M., Brigante, G.
Publikováno v:
Journal of Endocrinological Investigation; Feb2023, Vol. 46 Issue 2, p319-326, 8p
Autor:
Blaauw, S.L. de, Boselli, G.
Publikováno v:
Boselli, G. (ed.), La cattedrale. Atti del XVI Convegno liturgico internazionale Bose, 31 maggio-2 giugno 2018, 29-47. Magnano : Qiqajon Comunità di Bose
STARTPAGE=29;ENDPAGE=47;TITLE=Boselli, G. (ed.), La cattedrale. Atti del XVI Convegno liturgico internazionale Bose, 31 maggio-2 giugno 2018
Boselli, G. (ed.), La cattedrale. Atti del XVI Convegno liturgico internazionale Bose, 31 maggio-2 giugno 2018, pp. 29-47
STARTPAGE=29;ENDPAGE=47;TITLE=Boselli, G. (ed.), La cattedrale. Atti del XVI Convegno liturgico internazionale Bose, 31 maggio-2 giugno 2018
Boselli, G. (ed.), La cattedrale. Atti del XVI Convegno liturgico internazionale Bose, 31 maggio-2 giugno 2018, pp. 29-47
Item does not contain fulltext 31 mei 2018
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::629164c8807eef5e1ef48305fca2528c
https://hdl.handle.net/2066/213723
https://hdl.handle.net/2066/213723
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Boselli, G., Duvvury, C.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2005 45(9):1406-1414
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.