Zobrazeno 1 - 10
of 59
pro vyhledávání: '"Boselli, Gianluca"'
Autor:
Wang, Hui, Lai, Pengyu, Ali, Muhammad, Fan, Yanli, Dissegna, Mariano, Boselli, Gianluca, Chen, Zhong
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability August 2021 123
Publikováno v:
In Journal of Electrostatics November 2019 102
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability February 2016 57:47-52
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Duvvury, Charvaka, Steinhoff, Robert, Boselli, Gianluca, Reddy, Vijay, Kunz, Hans, Marum, Steve, Cline, Roger
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2006 46(5):656-665
Autor:
Smith, Jeremy C., Boselli, Gianluca
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2005 45(2):201-210
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2001 41(3):395-405
Publikováno v:
2015 37th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD); 2015, p1-6, 6p