Zobrazeno 1 - 10
of 36
pro vyhledávání: '"Bosch, Eric G. T."'
Scanning transmission electron microscopy (STEM) is the most widespread adopted tool for atomic scale characterization of two-dimensional (2D) materials. Many 2D materials remain susceptible to electron beam damage, despite the standardized practice
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2102.12159
Autor:
Vespucci Stefano, Bosch Eric G. T., Lazić Ivan, de Vries Bert, Egoavil Ricardo, Freitag Bert, Grieb Tim, Krause Florian F., Eickhoff Martin, Rosenauer Andreas
Publikováno v:
BIO Web of Conferences, Vol 129, p 04054 (2024)
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/4059574724944f75bc23f332052ceba9
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; Jan2011, Vol. 109 Issue 1, p013109, 9p, 1 Diagram, 10 Graphs