Zobrazeno 1 - 10
of 385
pro vyhledávání: '"Bosch, Eric"'
Scanning transmission electron microscopy (STEM) is the most widespread adopted tool for atomic scale characterization of two-dimensional (2D) materials. Many 2D materials remain susceptible to electron beam damage, despite the standardized practice
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2102.12159
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Vespucci Stefano, Bosch Eric G. T., Lazić Ivan, de Vries Bert, Egoavil Ricardo, Freitag Bert, Grieb Tim, Krause Florian F., Eickhoff Martin, Rosenauer Andreas
Publikováno v:
BIO Web of Conferences, Vol 129, p 04054 (2024)
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/4059574724944f75bc23f332052ceba9
Publikováno v:
Crystal Growth & Design; 11/20/2024, Vol. 24 Issue 22, p9727-9734, 8p
Autor:
Bosch, Eric, Bowling, Nathan P.
Publikováno v:
Acta Crystallographica Section C: Structural Chemistry; Sep2024, Vol. 80 Issue 9, p553-561, 9p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Bosch, Eric1 (AUTHOR) ericbosch@missouristate.edu, Moreno, Bryce S.2 (AUTHOR), Bowling, Nathan P.2 (AUTHOR)
Publikováno v:
Acta Crystallographica Section C: Structural Chemistry. Apr2023, Vol. 79 Issue 4, p149-157. 9p.
Publikováno v:
Crystal Growth & Design; 8/7/2024, Vol. 24 Issue 15, p6101-6104, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.