Zobrazeno 1 - 1 of 1 pro vyhledávání: '"Borstrok, J. J. M."'
1
Akademický článek
How accurate is the fundamental parameter approach? XRF analysis of bulk and multilayer samples.
Autor: De Boer, D. K. G., Borstrok, J. J. M., Leenaers, A. J. G., Van Sprang, H. A., Brouwer, P. N.
Publikováno v: XRS: X-ray Spectrometry; Jan1993, Vol. 22 Issue 1, p33-38, 6p
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje