Zobrazeno 1 - 10
of 35
pro vyhledávání: '"Borisova, S. S."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Malykhin, S. V., Vadym Makhlai, Surovitskiy, S. V., Borisova, S. S., Herashchenko, S. S., Kondratenko, V. V., Kopylets, I. A., Baturin, A. A., Terentyev, D.
Publikováno v:
Scopus-Elsevier
X-ray diffraction and SEM microscopy were used to study structural and phase changes in the surface layers of a Ti41.5Zr41.5Ni17 alloy bulk sample (target) and a thin film (deposited by magnetron sputtering of the target) under radiation-thermal acti
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Nano- & Electronic Physics; 2022, Vol. 14 Issue 1, p01031-1-01031-5, 5p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Malykhin, S. V., Garkusha, I. E., Makhlay, V. A., Surovitsky, S. V., Reshetnyak, M. V., Borisova, S. S.
The technique of X-ray diffraction investigation of coherence length and micro-strain level using approximation of diffraction line profiles by Gaussian and Cauchy functions as well as by harmonic analysis has been worked out for tungsten samples wit
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::1c015281a11ede2b8b13fff2a0e0e664
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/136677
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/136677
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Scopus-Elsevier
High-stable mass standards prepared as magnetron sputtered super-smooth metal layers deposited on single crystal substrates were attested. The thin film standards were found to meet the requirements to government standards: they are homogeneous, long