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Autor:
Dipold J; Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares, IPEN/CNEN, Av. Prof. Lineu Prestes, 2242, São Paulo 05508-000, SP, Brazil., Bordon CDS; Departamento de Engenharia de Sistemas Eletrônicos, Escola Politécnica da USP, São Paulo 05508-220, SP, Brazil., Magalhães ES; Departamento de Engenharia de Sistemas Eletrônicos, Escola Politécnica da USP, São Paulo 05508-220, SP, Brazil.; Faculty of Engineering and Natural Sciences, Tampere University of Applied Sciences, 33100 Tampere, Finland., Kassab LRP; Faculdade de Tecnologia de São Paulo, CEETEPS, São Paulo 01124-060, SP, Brazil., Jimenez-Villar E; Instituto de Física 'Gleb Wataghin', Universidade Estadual de Campinas, Campinas 13083-859, SP, Brazil.; CREOL, The College of Optics and Photonics, University of Central Florida, Orlando, FL 32816, USA., Wetter NU; Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares, IPEN/CNEN, Av. Prof. Lineu Prestes, 2242, São Paulo 05508-000, SP, Brazil.
Publikováno v:
Nanomaterials (Basel, Switzerland) [Nanomaterials (Basel)] 2023 Jun 29; Vol. 13 (13). Date of Electronic Publication: 2023 Jun 29.