Zobrazeno 1 - 10
of 19
pro vyhledávání: '"Bordez, S."'
Publikováno v:
Solid-State Electronics
Solid-State Electronics, Elsevier, 2009, 53 (2), pp.127-133
HAL
Solid-State Electronics, Elsevier, 2009, 53 (2), pp.127-133
HAL
International audience
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::bc94971b22499e5d87b09924ce3a3951
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00596158
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00596158
Publikováno v:
IEEE ICMTS 2006
IEEE ICMTS 2006, 2006, Grenoble, France. pp.XX
HAL
IEEE ICMTS 2006, 2006, Grenoble, France. pp.XX
HAL
International audience
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::8b647304a640f5725ff3bbfec75a014d
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00146936
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00146936
Publikováno v:
2008 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures; 2008, p90-95, 6p
Publikováno v:
AIP Conference Proceedings; 2007, Vol. 922 Issue 1, p137-140, 4p, 3 Graphs
Publikováno v:
2007 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures; 2007, p230-233, 4p
Publikováno v:
2007 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures; 2007, p226-229, 4p
Publikováno v:
2006 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures; 2006, p173-178, 6p
Publikováno v:
Proceedings of the Bipolar/BiCMOS Circuits & Technology Meeting, 2005; 2005, p62-65, 4p
Publikováno v:
2008 International Symposium on VLSI Technology, Systems & Applications (VLSI-TSA); 2008, p167-168, 2p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.