Zobrazeno 1 - 10
of 36
pro vyhledávání: '"Borany, J.V."'
Autor:
Lehmann, J., Hübner, R., Borany, J.V., Skorupa, W., Mikolajick, T., Schäfer, A., Schubert, J., Mantl, S.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering September 2013 109:381-384
Autor:
Lehmann, J., Shevchenko, N., Mücklich, A., Borany, J.v., Skorupa, W., Schubert, J., Lopez, J.M.J., Mantl, S.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2011 88(7):1346-1348
Publikováno v:
In Surface & Coatings Technology 2005 200(7):2253-2259
Publikováno v:
In Applied Surface Science 2005 252(1):185-188
Publikováno v:
Hoeglund, C.; Beckers, M.; Schell, N.; Borany, J.v.; Birch, J.; Hultmann, L.: Topotaxial growht of Ti2AlN by solid state reaction in AlN/Ti(0001) multilayer thin films. In: Applied Physics Letters. Vol. 90 (2007) 17, 174106. (DOI: 10.1063/1.2731520)
The formation of Ti2AlN by solid state reaction between layers of wurtzite-AlN and -Ti was characterized by in situ x-ray scattering. The sequential deposition of these layers by dual magnetron sputtering onto Al2O3(0001) at 200 °C yielded smooth, h
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2110::3677928dccbf00a7d442e385afb84573
http://www.hzg.de/imperia/md/content/gkss/zentrale_einrichtungen/bibliothek/journals/2007/Hoeglund-applphylet.pdf
http://www.hzg.de/imperia/md/content/gkss/zentrale_einrichtungen/bibliothek/journals/2007/Hoeglund-applphylet.pdf
Autor:
Hueso-González, F., Bemmerer, D., Berthel, M., Biegun, A.K., Borany, J.v., Dendooven, P., Dreyer, A., Enghardt, W., Fiedler, F., Golnik, C., Heidel, K., Kormoll, T., Petzoldt, J., Römer, K., Schmidt, K., Schwengner, R., Wagner, A., Wagner, L., Pausch, G.
Publikováno v:
In Radiotherapy and Oncology February 2014 110 Supplement 1:S44-S44
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Kormoll, T., Golnik, C., Akhmadaliev, S., Bemmerer, D., Borany, J.V., Fiedler, F., Hueso Gonzalez, F., Heidel, K., Kempe, M., Rohling, H., Schmidt, K., Schone, S., Wagner, L., Pausch, G.
Publikováno v:
2013 IEEE Nuclear Science Symposium & Medical Imaging Conference (2013 NSS/MIC); 2013, p1-3, 3p
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 1 April 2000 40(4-5):867-871
Publikováno v:
Microelectronics Reliability; April 2000, Vol. 40 Issue: 4-5 p867-871, 5p