Zobrazeno 1 - 10
of 241
pro vyhledávání: '"Boning, D."'
Autor:
Fan, W., Boning, D.
Publikováno v:
In Advances in Chemical Mechanical Planarization (CMP) Edition: Second Edition. 2022:143-174
Autor:
Alkhairy, A., Blank, L., Boning, D., David Cardwell, Carter, W. C., Collings, N., Hayhurst, A., Milne, W., Robinson, P., Seering, W., Sheppard, S., Smith, K., Stronge, B.
Publikováno v:
Scopus-Elsevier
Autor:
Aida, H., Baisie, E.A., Boning, D., Borucki, L., Cook, Lee, Fan, W., Schumacher-Härtwig, H., Krishnan, M., Künzelmann, U., Lagudu, Uma Ramesh Krishna, Lee, Kangchun, Li, Z.C., Lofaro, M.F., Moon, Y., Nalaskowski, J., Ong, P., Paik, Ungyu, Park, Jin-Goo, Pate, K., Penta, N.K., Philipossian, A., Yerriboina, Nagendra Prasad, Papa Rao, S.S., Roy, Dipankar, Safier, P., Sampurno, Y., Seo, Jihoon, Song, Z., Speed, D.E., Teugels, L., Theng, S., Tseng, Wei-Tsu, Tsujimura, M., Wang, L., Zhang, Q., Zhang, X.H., Zwicker, G.
Publikováno v:
In Advances in Chemical Mechanical Planarization (CMP) Edition: Second Edition. 2022:xi-xiii
Autor:
Fan, W., Boning, D.
Publikováno v:
In Advances in Chemical Mechanical Planarization (CMP) 2016:137-167
Publikováno v:
Boning
Scopus-Elsevier
Scopus-Elsevier
A statistical extension of the ultra-compact Virtual Source (VS) MOSFET model is developed here for the first time. The characterization uses a statistical extraction technique based on the backward propagation of variance (BPV) with variability para
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::3d2586badcabb78ad419cd0d61fc3089
http://hdl.handle.net/1721.1/92428
http://hdl.handle.net/1721.1/92428
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2011 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD); 2011, p162-169, 8p
Publikováno v:
2011 12th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED); 2011, p1-6, 6p