Zobrazeno 1 - 10
of 349
pro vyhledávání: '"Boninelli, S"'
Autor:
Calabretta, C., Pecora, A., Agati, M., Muoio, A., Scuderi, V., Privitera, S., Reitano, R., Boninelli, S., La Via, F.
Publikováno v:
In Materials Science in Semiconductor Processing May 2024 174
Autor:
Calabretta, C., Scuderi, V., Bongiorno, C., Anzalone, R., Reitano, R., Cannizzaro, A., Mauceri, M., Crippa, D., Boninelli, S., La Via, F.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 1 January 2024 283
Autor:
Agati, M., Boninelli, S., Calabretta, C., Mancarella, F., Mauceri, M., Crippa, D., Albani, M., Bergamaschini, R., Miglio, L., La Via, F.
Publikováno v:
In Materials & Design October 2021 208
Autor:
Monflier, R., Tabata, T., Rizk, H., Roul, J., Huet, K., Mazzamuto, F., Acosta Alba, P., Kerdilès, S., Boninelli, S., La Magna, A., Scheid, E., Cristiano, F., Bedel-Pereira, E.
Publikováno v:
In Applied Surface Science 30 April 2021 546
Autor:
Shakoor, A., Savio, R. Lo, Cardile, P., Portalupi, S. L., Gerace, D., Welna, K., Boninelli, S., Franzo, G., Priolo, F., Krauss, T. F., Galli, M., Faolain, L. O
Silicon is now firmly established as a high performance photonic material. Its only weakness is the lack of a native electrically driven light emitter that operates CW at room temperature, exhibits a narrow linewidth in the technologically important
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1306.5537
Publikováno v:
In Applied Surface Science 1 May 2019 475:494-503
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Lombardo, S.F., Boninelli, S., Cristiano, F., Fisicaro, G., Fortunato, G., Grimaldi, M.G., Impellizzeri, G., Italia, M., Marino, A., Milazzo, R., Napolitani, E., Privitera, V., La Magna, A.
Publikováno v:
In Materials Science in Semiconductor Processing May 2017 62:80-91
Autor:
Cristiano, F., Shayesteh, M., Duffy, R., Huet, K., Mazzamuto, F., Qiu, Y., Quillec, M., Henrichsen, H.H., Nielsen, P.F., Petersen, D.H., La Magna, A., Caruso, G., Boninelli, S.
Publikováno v:
In Materials Science in Semiconductor Processing February 2016 42 Part 2:188-195
Autor:
Scuderi, V., Amiard, G., Boninelli, S., Scalese, S., Miritello, M., Sberna, P.M., Impellizzeri, G., Privitera, V.
Publikováno v:
In Materials Science in Semiconductor Processing February 2016 42 Part 1:89-93