Zobrazeno 1 - 10
of 13
pro vyhledávání: '"Bonifacio, C. S."'
Autor:
Bonifacio, C. S.1 cs_bonifacio@fischione.com, Yu, Y.2, Ray, M. L.1, Skowronski, M.2, Fischione, P. E.1
Publikováno v:
Electronic Device Failure Analysis. Nov2024, Vol. 26 Issue 4, p20-26. 6p.
Publikováno v:
Microscopy & Microanalysis; 2024 Supplement, Vol. 30, p1-4, 4p
Publikováno v:
Microscopy & Microanalysis; 2024 Supplement, Vol. 30, p1-4, 4p
Publikováno v:
Microscopy & Microanalysis; 2024 Supplement, Vol. 30, p1-4, 4p
Autor:
Bonifacio, C. S.1 cs_bonifacio@fischione.com, Campin, M. J.1, McIlwrath, K.2, Fischione, P. E.1
Publikováno v:
Electronic Device Failure Analysis. Nov2019, Vol. 21 Issue 4, p4-12. 7p.
Publikováno v:
Microscopy & Microanalysis; 2023 Supplement, p2073-2074, 2p
Publikováno v:
Microscopy & Microanalysis; 2023 Supplement, p105-106, 2p
Autor:
Campin, M. J., Bonifacio, C. S., Kang, H. H., Nowakowski, P., Boccabella, M., Fischione, P. E.
Publikováno v:
Microscopy & Microanalysis; 2017 Special issue, Vol. 23, p302-303, 2p, 1 Black and White Photograph, 1 Graph
Publikováno v:
Microscopy & Microanalysis; 2017 Special issue, Vol. 23, p300-301, 2p, 1 Black and White Photograph, 1 Chart, 1 Graph
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.