Zobrazeno 1 - 10
of 102
pro vyhledávání: '"Boemmels, J."'
Autor:
Kumaresan, V., Wilson, C.J., Verdonck, P., Van Besien, E., Lazzarino, F., Truffert, V., Bömmels, J., Tokei, Zs., Wong, T.K.S.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 25 May 2014 120:90-94
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
de Marneffe, J.-F., Zhang, L., Rutigliani, V., Noya, G., Cao, Y., Lesniewska, A., Pedreira, O., Croes, K., Gillot, C., Tokei, Z., Boemmels, J., Baklanov, M. R.
Publikováno v:
2015 IEEE International Interconnect Technology Conference & 2015 IEEE Materials for Advanced Metallization Conference (IITC/MAM); 2015, p91-94, 4p
Autor:
Zhang, L., de Marneffe, J.-F., Heylen, N., Murdoch, G., Tokei, Z., Boemmels, J., De Gendt, S., Baklanov, M. R.
Publikováno v:
2015 IEEE International Interconnect Technology Conference & 2015 IEEE Materials for Advanced Metallization Conference (IITC/MAM); 2015, p345-348, 4p
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.