Zobrazeno 1 - 1 of 1 pro vyhledávání: '"Bjelland VM"'
1
Akademický článek
Diffractive order Mueller matrix ellipsometry for the design and manufacture of polarization beam splitting metasurfaces.
Autor: Bjelland VM, Hale N, Schwarz N, Vala D, Høvik J, Kildemo M
Publikováno v: Optics express [Opt Express] 2024 Jan 01; Vol. 32 (1), pp. 703-721.
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje