Zobrazeno 1 - 6
of 6
pro vyhledávání: '"Bilski Adrian"'
Autor:
Bilski Adrian, Wojciechowski Jacek
Publikováno v:
International Journal of Applied Mathematics and Computer Science, Vol 26, Iss 3, Pp 655-668 (2016)
The aim of this paper is to introduce a strategy to find a minimal set of test nodes for diagnostics of complex analog systems with single parametric faults using the support vector machine (SVM) classifier as a fault locator. The results of diagnost
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/2fc343f2b2e0450d8b542e74713fec56
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Bilski, Piotr, Lewandowski, Marcin, Bilski, Adrian, Buchowicz, Andrzej, Olejnik, Jacek, Mazurek, Paweł, Jędrzejewski, Konrad
Publikováno v:
Machine Graphics & Vision; 2023, Vol. 32 Issue 3/4, p233-254, 22p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
International Journal of Electronics & Telecommunications. 2020, Vol. 66 Issue 4, p787-792. 6p.
Autor:
Bilski, Adrian
Publikováno v:
2015 IEEE 8th International Conference on Intelligent Data Acquisition & Advanced Computing Systems: Technology & Applications (IDAACS); 2015, p198-202, 5p