Zobrazeno 1 - 3
of 3
pro vyhledávání: '"Bijnagte, Tom"'
Autor:
Bijnagte, Tom, Kramer, Geerten, Kramer, Lukas, Dekker, Bert, Herfst, Rodolf, Sadeghian, Hamed
In atomic force microscopy (AFM), the exchange and alignment of the AFM cantilever with respect to the optical beam and position-sensitive detector (PSD) are often performed manually. This process is tedious and time-consuming and sometimes damages t
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1610.03471
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.