Zobrazeno 1 - 10
of 180
pro vyhledávání: '"Bi Dawei"'
Autor:
Zhou, Yue, Bi, Dawei, Wang, Songlin, Wu, Longsheng, Huang, Yi, Zhang, Enxia, Fleetwood, Daniel M., Wu, Aimin
In this work, the radiation responses of silicon photonic passive devices built in silicon-on-insulator (SOI) technology are investigated through high energy neutron and 60Co gamma-ray irradiation. The wavelengths of both micro-ring resonators (MRRs)
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2112.14459
Autor:
Liu, Zhongyang, Zhang, Haineng, Xie, Yuqiao, Bi, Dawei, Hu, Zhiyuan, Zou, Shichang, Zhang, Zhengxuan
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability February 2023 141
Autor:
Qiu, Guoji1,2 (AUTHOR), Bi, Dawei1 (AUTHOR) davidb@mail.sim.ac.cn, Hu, Zhiyuan1 (AUTHOR), Zhang, Zhengxuan1 (AUTHOR)
Publikováno v:
International Journal of Circuit Theory & Applications. Dec2024, p1. 9p. 8 Illustrations.
Publikováno v:
IET Control Theory & Applications (Wiley-Blackwell); Dec2024, Vol. 18 Issue 18, p2872-2885, 14p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Zhu, Huilong, Bi, Dawei, Xie, Xin, Hu, Zhiyuan, Liu, Chunmei, Zhang, Zhengxuan, Zou, Shichang
Publikováno v:
In Solid State Electronics January 2021 175
Publikováno v:
International Journal of Circuit Theory & Applications; Oct2024, Vol. 52 Issue 10, p5374-5389, 16p
Autor:
Xie, Xin, Zhu, Huilong, Bi, Dawei, Hu, Zhiyuan, Ren, JiangChuan, Zhang, Haineng, Zhang, Zhengxuan, Zou, Shichang
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability February 2020 105
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability December 2019 103
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.