Zobrazeno 1 - 10
of 26
pro vyhledávání: '"Bhavsar, D.K."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
International Test Conference, 2003. Proceedings ITC 2003; 2003, p764-772, 9p
Scan Islands - a scan partitioning architecture and its implementation on the Alpha 21364 processor.
Autor:
Bhavsar, D.K., Davies, R.A.
Publikováno v:
Proceedings 20th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2002); 2002, p16-21, 6p
Autor:
Bhavsar, D.K.
Publikováno v:
Proceedings 19th IEEE VLSI Test Symposium. VTS 2001; 2001, p94-99, 6p
Autor:
Bhavsar, D.K.
Publikováno v:
International Test Conference 1999 Proceedings (IEEE Cat No99CH37034); 1999, p311-318, 8p
Autor:
Bhavsar, D.K., Fromm, R.M.
Publikováno v:
Proceedings of the IEEE 1995 Custom Integrated Circuits Conference; 1995, p651-654, 4p
Publikováno v:
Proceedings International Test Conference 1998 (IEEE Cat No98CH36270); 1998, p853-861, 9p
Publikováno v:
Proceedings International Test Conference 1998 (IEEE Cat No98CH36270); 1998, p487-495, 9p
Autor:
Bhavsar, D.K., Edmondson, J.H.
Publikováno v:
Proceedings, International Test Conference; 1994, p50-59, 10p