Zobrazeno 1 - 10
of 89
pro vyhledávání: '"Bhaumik, Jaydeb"'
The reliability of memory devices is affected by radiation induced soft errors. Multiple cell upsets (MCUs) caused by radiation corrupt data stored in multiple cells within memories. Error correction codes (ECCs) are typically used to mitigate the ef
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2307.16195
Publikováno v:
In Microprocessors and Microsystems February 2024 104
Reliability is an important requirement for both communication and storage systems. Due to continuous scale down of technology multiple adjacent bits error probability increases. The data may be corrupted due soft errors. Error correction codes are u
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2002.07507
Publikováno v:
In Integration March 2023 89:56-72
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Sinha, Tirthadip1 (AUTHOR) tirthadip.sinha@gmail.com, Bhaumik, Jaydeb2 (AUTHOR)
Publikováno v:
International Journal of Communication Systems. Dec2023, Vol. 36 Issue 18, p1-9. 9p.
Publikováno v:
In Digital Signal Processing October 2022 130
Autor:
Bhaumik, Jaydeb
Maximum length CA has wide range of applications in design of linear block code, cryptographic primitives and VLSI testing particularly in Built-In-Self-Test. In this paper, an algorithm to compute all $n$-cell maximum length CA-rule vectors is propo
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1503.04006
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.