Zobrazeno 1 - 3
of 3
pro vyhledávání: '"Bhanushali, Kirti"'
FinFETs are predicted to advance semiconductorscaling for sub-20nm devices. In order to support their intro-duction into research and universities it is crucial to develop anopen source predictive process design kit. This paper discussesin detail the
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2009.04600
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2016 IEEE International Conference on RFID (RFID); 2016, p1-6, 6p
