Zobrazeno 1 - 10
of 459
pro vyhledávání: '"Beyne Eric"'
When partitioning gate-level netlists using graphs, it is beneficial to cluster gates to reduce the order of the graph and preserve some characteristics of the circuit that the partitioning might degrade. Gate clustering is even more important for ne
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2307.09308
Autor:
Sebaai, Farid, Loo, Roger, Jourdain, Anne, Beyne, Eric, Kawarazaki, Hikaru, Nakano, Teppei, Sanchez, Efrain Altamirano
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 15 November 2024 294
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Tsau, Yan Wen, De Messemaeker, Joke, Salahouelhadj, Abdellah, Gonzalez, Mario, Witters, Liesbeth, Zhang, Boyao, Seefeldt, Marc, Beyne, Eric, De Wolf, Ingrid
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2022 138
Autor:
Chery, Emmanuel, Brady-Boyd, Anita, Lin, Yuyuan, Grimes, Michael, Springer, David, Slabbekoorn, John, Walsby, Edward, Croes, Kristof, Beyne, Eric
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 15 October 2022 266
Publikováno v:
In International Journal of Heat and Mass Transfer January 2022 182
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Inoue, Fumihiro *, Podpod, Arnita, Peng, Lan, Phommahaxay, Alain, Rebibis, Kenneth June, Uedono, Akira, Beyne, Eric
Publikováno v:
In Journal of Manufacturing Processes October 2020 58:811-818
Effects of isothermal storage on grain structure of Cu/Sn/Cu microbump interconnects for 3D stacking
Autor:
Panchenko, Iuliana, Wolter, Klaus-Juergen, Croes, Kristof, De Wolf, Ingrid, De Messemaeker, Joke, Beyne, Eric, Wolf, M. Juergen
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2019 102
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.