Zobrazeno 1 - 10
of 321
pro vyhledávání: '"Bercu B"'
Publikováno v:
Nanotechnology 29 (2018) 505207 (9pp)
In this work, we investigate the optoelectronic properties of zinc oxide (ZnO) nanowires, which are good candidates for applications based on integrated optics. Single ZnO nanowire photodetectors were fabricated with ohmic contacts. By taking current
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1907.11393
We study the rotation-activity correlations (RACs) in a sample stars from spectral type dK4 to dM4. We study RACs using chromospheric data and coronal data. We study the Ca\,{\sc ii} line surface fluxes-$P/\sin i$ RACs. We fit the RACs with linear ho
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1701.07608
Autor:
Bercu, B., Geng, W., Simonetti, O., Kostcheev, S., Sartel, C., Sallet, V., Lérondel, G., Molinari, M., Giraudet, L., Couteau, C
Current voltage and Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM) measurements were performed on single ZnO nanowires. Measurements are shown to be strongly correlated with the contact behavior, either ohmic or Schottky. The ZnO nanowires were obtained by met
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1512.07321
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2010 87(3):406-411
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Bercu, B
Publikováno v:
In Stochastic Processes and their Applications 2004 111(1):157-173