Zobrazeno 1 - 10
of 28
pro vyhledávání: '"Benware, Brady"'
Publikováno v:
VLSI Design, Automation & Test(VLSI-DAT); 2015, p1-4, 4p
Autor:
Tang, Huaxing, Benware, Brady, Reese, Michael, Caroselli, Joseph, Herrmann, Thomas, Hapke, Friedrich, Tao, Robert, Cheng, Wu-Tung, Sharma, Manish
Publikováno v:
2014 IEEE 23rd Asian Test Symposium; 2014, p318-323, 6p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Huang, Yu, Fan, Xiaoxin, Tang, Huaxing, Sharma, Manish, Cheng, Wu-Tung, Benware, Brady, Reddy, Sudhakar M.
Publikováno v:
2013 IEEE 31st VLSI Test Symposium (VTS); 2013, p1-6, 6p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2011 IEEE International Test Conference (ITC); 2011, p1-9, 9p
Publikováno v:
2011 20th Asian Test Symposium (ATS); 2011, p219-225, 7p
Autor:
Rocca, Jorge J. G., Filevich Chamatropulos, Jorge, Marconi, Mario C., Ozols, A., Kanizay, Kelly, Benware, Brady R., Chilla, Juan L. A., Artioukov, Igor A., Kasjanov, Yuriy S., Kondratenko, V. V., Vinogradov, Alexander V.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2000, Issue 1, p173-184, 12p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.