Zobrazeno 1 - 9
of 9
pro vyhledávání: '"Benoist, Thomas"'
Autor:
Tommasini, Fabio, Benoist, Thomas, Shibuya, Soichi, Woodall, Maximillian N.J., Naldi, Eleonora, Palor, Machaela, Orr, Jessica C., Giobbe, Giovanni Giuseppe, Maughan, Elizabeth F., Saleh, Tarek, Gjinovci, Asllan, Hutchinson, J. Ciaran, Arthurs, Owen J., Janes, Sam M., Elvassore, Nicola, Hynds, Robert E., Smith, Claire M., Michielin, Federica, Pellegata, Alessandro Filippo, De Coppi, Paolo
Publikováno v:
In Biomaterials October 2023 301
Autor:
Benoist, Thomas
Dans l’industrie de la micro-électronique, les efforts à fournir pour les nouvelles applications développées deviennent de plus en plus contraignants et difficiles à supporter en terme de coût. Les agressions provenant des décharges électro
Externí odkaz:
http://www.theses.fr/2012GRENT093/document
Autor:
Benoist, Thomas, Fenouillet-Beranger, Claire, Perreau, Pierre, Buj, Christel, Galy, Philippe, Marin-Cudraz, David, Faynot, Olivier, Cristoloveanu, Sorin, Gentil, Pierre
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2011 88(7):1276-1279
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Benoist, Thomas
Publikováno v:
Autre. Université de Grenoble, 2012. Français. ⟨NNT : 2012GRENT093⟩
In the microelectronics industry, the fabrication process for advanced technological nodes becomes more and more cumbersome and limiting in terms of cost. The electrostatic discharges (ESD) generated by the direct environment affect the circuits and
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::cbf26f664c415f34c8660265b689ce5e
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01146222
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01146222
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Wilson, Robin, Beigne, Edith, Flatresse, Philippe, Valentian, Alexandre, Abouzeid, Fady, Benoist, Thomas, Bernard, Christian, Bernard, Sebastien, Billoint, Olivier, Clerc, Sylvain, Giraud, Bastien, Grover, Anuj, Le Coz, Julien, Panades, Ivan Miro, Noel, Jean-Philippe, Pelloux-Prayer, Bertrand, Roche, Philippe, Thomas, Olivier, Thonnart, Y., Turgis, David
Publikováno v:
2014 IEEE International Solid-State Circuits Conference Digest of Technical Papers (ISSCC); 2014, p452-453, 2p
Publikováno v:
2013 IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S); 2013, p1-2, 2p
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.