Zobrazeno 1 - 5
of 5
pro vyhledávání: '"Ben Mooring"'
Publikováno v:
2013 IEEE International Conference on Cyber Technology in Automation, Control and Intelligent Systems.
The electronics industry is relying increasingly on robotics for its production. High accuracy wafer handling is critical in semiconductor manufacturing. Typical pre-alignment wafer eccentricity identification is time-consuming because a pick-measure
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::3cc1a1c89a864cd4b44231376db8d426
https://doi.org/10.1109/cyber.2013.6705463
https://doi.org/10.1109/cyber.2013.6705463
Publikováno v:
ROBIO
In semiconductor manufacturing, wafers are transferred using wafer handling robots. Typically a pick-measure-place method is used to transfer wafers accurately between stations. The measurement step is performed using an aligner, which is time-consum
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::ac05b2f643e4cff8f746b5e5d65c0597
https://doi.org/10.1109/robio.2011.6181407
https://doi.org/10.1109/robio.2011.6181407
Publikováno v:
1988 American Control Conference.
This paper describes laboratory experiments to support mechanical engineering courses in modeling and automatic control theory. The paper begines with discussions of the goals for the experiments and the constraints under which the experiments must b
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::4cc891f13793bbe81b8c3e5918ef7e96
https://doi.org/10.23919/acc.1988.4789892
https://doi.org/10.23919/acc.1988.4789892
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.